Научно-аналитическое оборудование Центра | Горный Университет

Научно-аналитическое оборудование Центра

 

 

Растровый электронный микроскоп JSM-7001F с катодом Шоттки (термополевая эмиссия)

 

Технические характеристики
прибора

Параметры

1

Разрешение во вторичных электронах

1,2 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ)

3 нм (ускоряющее напряжение 1 кВ)

2

Увеличение (режим SEM)

До 1 000 000

3

Ускоряющее напряжение

От 0.2 до 30 кВ

4

Катод

Типа Шоттки

5

Максимальный размер образца

12,5 мм (диаметр)

Решаемые задачи:

  • исследование структурно-химических особенностей твердых образцов (горных пород, руд, минералов, сплавов, керамик и т.п.),
  • анализ образцов в точке, а также распределение химических элементов по линии или площади с использованием EDS-спектрометра в диапазоне элементов от B до U.

Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Лазерный анализатор распределения размеров частиц Horiba LB-550

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Источник света

Лазерный диод 650 нм 5 мВт

2

Детектор

Фотоумножитель

3

Проба

0,1-20 мл

4

Диапазон концентраций

1 ppm до 40%

5

Контроль вязкости

0,4 до 10 МПа

Решаемые задачи:

  • определение размеров частиц в диапазоне размеров от 1 нм до 6 мкм;
  • определение вязкости растворов в диапазоне температур от 20 до 70 0С.

Области применения: минералогия, разработка новых материалов.

 

Лазерный анализатор распределения размеров частиц Horiba LА-950

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Источник света

Лазерный диод 650 нм 5 мВт

Лазерный диод 400 нм - 3 мВт

2

Детектор

Фотоумножитель

3

Проба

0,1 мг - 5 г (в жидкости)

4

Дисперсия материала

Сухая дисперсия, ультразвук

5

Погрешность измерений

0,6%

Решаемые задачи:

  • определение размеров частиц в диапазоне от 10 нм до 3 мм;
  • определение размеров частиц в различных жидкостях (вода органические растворители)

Области применения: минералогия, разработка новых материалов.

 

Климатическая камера с ксеноновыми лампами (везерометр) с комплектом ультразвуковых ванн Q-SUN

Решаемые задачи:

Везерометр Q-SUN Xe-3 представляет собой многофункциональные, полноразмерные камеры солнечной радиации (камеры искусственной погоды, ксенотесты) для испытаний материалов, покрытий и готовых изделий на светостойкость и атмосферостойкость.

Везерометр Q-SUN Xe-3 оснащены тремя мощными ксеноновыми лампами (5400 Вт), выдвижным лотком для размещения образцов (размер 451 х 718 мм), Дополнительно оснащаются системами увлажнения, орошения, двойного орошения, охлаждения образцов. Одним из отличий везерометров Xe-3 от других, представленных на рынке, является возможность испытывать не только плоские, но и объемные образцы.

Область применения: Сегодня Xe-3 является стандартом при проведении испытаний на светостойкость в таких компаниях как BASF, DuPont, Bayer, FIAT, VW, Marks&Spencer и пр.

 

Анализатор SDT Q-600

Решаемые задачи:

  •  одновременное изменения массы образца и процессов, сопровождающихся выделением или поглощением тепла;
  •  высокотемпературный термический анализ.

Область применения: минералогия, разработка новых материалов.

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Диапазон температур

до 1500 0C

2

Скорость нагрева до 10000C

От 0.1 до 100 0C/мин

3

Скорость нагрева до 15000C

От 0.1 до 25 0C/мин

4

Скорость охлаждения печи

от 1500 до 50 0C менее чем, за 30 мин

5

Масса образца до

200 мг (350 мг вместе с держателем образца)

6

Чувствительность весов

0.1 мкг

7

Калориметрическая точность/воспроизводимость

± 2% (по металлическим стандартам)

8

Чувствительность ДТА

0.001 0C

9

Термопары

Pt / Pt-Rh

10

Вакуум

до 7 Па (0.05 тор)

11

Тигли

Платиновые: 40 мкл, 110 мкл. Керамические (Al2O3): 40 мкл, 90 мкл.

 

Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-7000 фирмы «Shimadzu»

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Рентгеновская трубка

Cu, 2,7 kW

2

Источник питания

3 kW, стабильность ± 0,01%, 60 kV

3

Гониометр

Радиус сканирования 275 мм, скорость сканирования – 0,1-100º/мин (2тэта)

4

Сцинтилляционный счетчик

NaI,

5

Режимы работы

Непрерывное сканирование, пошаговое сканирование, калибровка, позиционирование, осцилляция по оси тета(при 2тета- непрерывном и пошаговом сканировании)

 

Решаемые задачи:

  • прецизионное определение параметров кристаллической решетки порошковых проб;
  • определение соотношения аморфной и кристаллической фаз.

Область применения: минералогия,  металлургия, разработка новых материалов.

 

Проведение  подготовки к анализу методами атомной спектрометрии (абсорбционной и эмиссионной с индуктивно связанной плазмой) твёрдых образцов:

– Разработка способов  кислотного растворения при обычных условиях;

– Разработка способов  химического разложения под давлением различных типов твердых образцов (горных пород, руд, минералов, сплавов и т.п.) с использованием системы микроволновой  пробоподготовки  MULTIWAVE  3000  фирмы ANTON  PAAR.

Решаемые задачи:

  • проведение качественного и полуколичественного многоэлементного анализа  неорганических растворов  неизвестного состава;
  • определение элементов  от Li до Th в различных материалах (горных породах, рудах, минералах, сплавах, почвах и т.п.) после кислотного растворения в диапазоне содержаний от n10-4 до n10 %;
  • элементный анализ органический жидкостей, нефтей и нефтепродуктов;
  • анализ природных и промышленных вод, технологических растворов на содержание элементов  от Li до Th  с пределом обнаружения  - 1 мкг/л.

Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

 

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Разрешение в АСМ режиме

1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z

2

Разрешение в СТМ режиме

1 ангстрем по X,Y; 0,2 ангстрема по Z

3

Дрейф системы

менее 0,5 ангстрем/сек

4

Проведение измерений в вакууме

До 10-3 Па

5

Жидкостная ячейка

Проведение измерений в жидких средах

 

Решаемые задачи:

  • Атомно-силовая микроскопия (АСМ) поверхности подготовленных проб и препаратов размером не более 10 мм х 5 мм, высотой не более 3 мм, и шероховатостью поверхности не более 1 мкм, в контактном и полуконтактном режимах.
  • Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомарно гладких проводящих или полупроводниковых поверхностей специально подготовленных проб и препаратов.
  • Разработка способов исследования поверхностей препаратов в жидкостной ячейке в ограниченном диапазоне составов растворов.

Области применения: минералогия, разработка новых материалов.

 

Двулучевой микроскоп JIB-4500, включающий РЭМ с LaB6-катодом и Ga+-ионную пушку

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Разрешение во вторичных электронах

2,5 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, высокий вакуум)

4 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, 1 Па)

2

Увеличение (режим SEM)

До 300 000

3

Ускоряющее напряжение

От 0.3 до 30 кВ

4

Катод

LaB6

5

Максимальный размер образца

31 мм (диаметр)

 

Решаемые задачи:

  • исследование твердых образцов после выполнения разрезов ионным лучом с микронным разрешением с последующим изучением срезов в режимах РЭМ с EDS- анализом;
  • исследование пленок, покрытий, гетерогенных по глубине образцов.

Область применения: минералогия, металлургия, технология покрытий.

Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF -1800 фирмы Shimadzu

Решаемые задачи:

  • многоэлементный анализ сплавов, твёрдых и порошковых проб (в диапазоне содержаний от n*10 % до n*10-4%;);

  • анализ различных образцов (горных пород, руд, минералов, сплавов, керамик и т.п.).

  • проведение полуколичественных и количественных определений (при наличии стандартных образцов состава);

  • возможность проведения элементного анализа плёнок;

  • возможность локализации пучка при проведении анализа до 500 мк.

Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

 

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Диапазон анализируемых элементов

от Be до U

2

Количество одновременно анализируемых образцов

8 шт.

3

Мощность рентгеновской трубки

4 кВ

4

Максимальная энергия возбуждения

60 кВ, 140 мА

5

Тип анода трубки

Cr

6

Типы анализируемых образцов

твердые, жидкие, порошки

7

Рабочая атмосфера

воздух, вакуум

8

Минимальный размер образца

0,2 мм

9

Максимальный размер образца: высота*диаметр

51*38 мм

 

Линия пробоподготовки

Прецизионный отрезной станок ISOMET 4000 фирмы Buehler

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Размер образца для тисков

2” (50 мм)

2

Скорость вращения пилы

200-5000 об/мин

3

Скорость подачи

0,05-0,75 [19 мм] дюйм/мин

4

Глубина разреза

0,01-8 [203 мм] дюймов

 

Назначение. Линейная автоматическая прецизионная пила предназначена для резки геологического и металлургического материала.

Возможности. Использование автоматизированных прецизионных отрезных станков позволяет автоматически регулировать подачу, исключать повреждения образца, автоматики и лезвия, обеспечивать качество при работе разных операторов и с разными материалами.

Отрезной станок ISOMET 4000  используется в высокоточной резке, а также для низкодеформирующей резки с минимальной  потерей линии распила.

Для наиболее оптимального выбора фиксации образца имеются:

  • точные зажимы и фланцы из нержавеющей стали;
  • стандартные зажимы и фланцы серии ISOMET@;
  • фиксация длинноразмерных образцов и специфические отраслевые зажимы;
  • алмазные ISOCUT @ и абразивные диски.

 

Ручной отрезной станок для широкого перечня материалов DELTA Abrasimet
фирмы Buehler

Назначение. Линейная автоматическая прецизионная пила предназначена для резки черных и цветных металлов, керамики, металлических матриц композитного материала, термически нанесенных покрытий, полимеровы, угля, стекла, минералов.

Возможности. Использование автоматизированных прецизионных отрезных станков позволяет автоматически регулировать подачу, исключать повреждения образца, автоматики и лезвия, обеспечивать качество при работе разных операторов и с разными материалами.
Отрезной станок DELTA Abrasimet  используется в высокоточной резке, а так же для   низкодеформирующей резки с минимальной  потерей линии распила.
Минимизирует время резки наряду с увеличением максимального размера диаметра образца до 95 мм. Широкий выбор отрезных дисков, прецизионных лезвий. 

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Отрезной круг

254 мм

2

Скорость вращения диска

2830 об/мин

3

Величина реза:

95 мм

4

Подача отрезного круга:

Сверху

5

Дисковый тормоз:

механический

 

Вибрационная мельница ММ 301 фирмы RETSCH

Назначение. Измельчение пробы до тонкого однородного по крупности порошка для получения высокоточных результатов в ряде методов физико-химических анализов (рентгенофлуоресцентный, рентгенофазовый, дифференциальный термический анализы и др.).

Принцип измельчения. Стакан с образцом радиально вибрирует в горизонтальной позиции. Таким образом, материал истирается шарами о стенки стакана. Интенсивность может быть установлена между 3 и 30 вибрациями в секунду. Контроль скорости сохраняет это значение постоянным во время всего процесса измельчения. В режиме stand-by все параметры запоминаются.  В режиме измельчения параметры можно программировать, что гарантирует максимальное воспроизведение условий пробоподготовки.

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Объем стакана

35 мл

2

Объем образца

до 15 мл

3

Максимальный объем зерен

6 мм

4

Рекомендуемый размер шаров и их количество

Ø20 мм – 1 шт.

Ø25 мм – 1 шт.

5

Интенсивность измельчения

3-30 вибраций/сек

6

Время измельчения

10-99 сек

7

Конечная тонкость (зависит от материала)

5 мкм

 

Пресс SIMPLIMET 1000 фирмы Buehler

Назначение. Автоматический электрогидравлический пресс применяется для запрессовки твердых образцов горных пород, руд, металлургических и экологических проб в термоактивные смолы и изготовления шайб определенного диаметра. Позволяет подготавливать и в дальнейшем исследовать мелкие образцы и образцы неправильной формы.

Возможности. Быстрая запрессовка образцов с целью облегчения последующей подготовки и улучшения результатов. Система нагрева/охлаждения механически сопряжена с формами для максимального теплопереноса и ускорения цикла работы. Стандартная дуплексная пресс-форма позволяет делать две запрессовки образцов за один цикл. Используются все типы термоактивных смол включая фенольные, EPOMET®, PROBEMET®, KONDUCTOMET®, и диаллиловый фталат. Возможность выбора времени нагрева и охлаждения, давления, температуры, единиц измерений.

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Давление, воздаваемое прибором

80-300 бар

2

Время нагрева прибора

0-20 мин с шагом приращения 10 с

3

Время охлаждения прибора

0-30 мин с шагом приращения 10 с

4

Температура прессовки

1500С или 1800С

5

Пресс формы

до Ø 50 мм

6

Мощность разогрева

1500 Ватт от 220 В

 

Шлифовально-полировальная машина Phoenix BETA фирмы Buehler

Назначение. Механическая подготовка поверхности с целью последующего исследования её микроструктуры. Создание совершенно плоского и хорошо отполированного образца минерала или горной породы, с неровностями на поверхности пренебрежимо малыми по сравнению с глубиной   проникновения электронов, составляющей в среднем 2-3 микрона. Процесс полирования необходим для полного исключения повреждений поверхности и является финальным в процессе пробоподготовки.

Возможности. Ручная полуавтоматическая шлифовально-полировальная машина Phoenix BETA  позволяет варьировать скорость полировального круга во всем диапазоне от 30 до 600 об./мин. Приставка позволяет шлифовать/полировать образцы, создавая пневматическую нагрузку индивидуально на каждый образец или на все образцы. Щадящий режим обработки поверхности обеспечивает сохранение истинной структуры образца. Широкий выбор абразивных бумаг и шлифовальных дисков.

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Скорость вращения насадки

60 об/мин

2

Сжатый воздух

6 бар фильтрованный

3

Количество образцов

Индивидуальный нажим: 1-4 шт

Центральный нажим: до 6 в зависимости от держателя

4

Размеры образцов

1”; 1,25”; 1,5”; 25 мм; 30 мм; 32 мм; 38 мм; 40 мм

 

Установка для травления поверхностей твердых образцов и напыления на них пленок углерода или золота, контролируемой толщины фирмы «Edwards»

Назначение. Покрытие образцов пленкой углерода или золота для анализа их в условиях высокого разрешения.

Возможности. Удаление нарушенного поверхностного слоя и контролируемое напыление для непроводящих и слабопроводящих образцов путем травления или очистки поверхности образца пучком заряженных частиц в низком вакууме и напыление с помощью углеродного волокна или металлической мишени.

Установка обеспечивает однородность покрытия даже на неровных поверхностях.

 

 

 

 

Установка ионного утонения Ion Slicer (EM-09100IS) фирмы Jeol

 

Технические характеристики прибора

Параметры

1

Ускоряющее напряжение ионов:

от 1 до 8 кВ

2

Скорость резания при фрезеровании:

5 //м/мин (при ускоряющем напряжении: 8 кВ, образец: кремний)

3

Режущий газ:

аргон

4

Вакуумметр:

тип Пеннинга

5

Основное вакуумное оборудование:

турбомолекулярный насос

6

Дополнительное вакуумное оборудование:

роторный насос

Назначение. Предназначена для механического и ионного утонения образцов минералов, керамики, горных пород при дальнейшем их исследовании на просвечивающем электронном микроскопе.

 

 

 

 

 

 

 

 

Система Orphus
Стандартная версия сайта